Д. Синдо, Т. Оикава Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия

Издательство: Техносфера, 2007 г.

В издании речь идет, прежде всего, о различных технологиях спектрального анализа, в том числе в том его плане, как например, измерения потери энергии электронами во время проведения спектрального исследования. Причем рассматривается данная тема, прежде всего, в разрезе строения просвечивающих электро-микроскопов, сверхвысокой точности.


Вверх